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英伟达:AI组合拳提升芯片生产良率
AIGC开放社区
AI 摘要
英伟达:芯片制造良率控制难,传统方法有局限。推出NV - Tesseract和NIM,二者结合可实时发现并预测问题,还能分析参数关系,未来将针对特定数据微调。
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英伟达用NIM + NV-Tesseract模型,提高芯片生产良率
芯片制造良率控制难题待解,传统方法各有局限。英伟达推出NV - Tesseract模型家族和NIM推理微服务,二者结合用于半导体晶圆厂生产,可实时发现问题、预测故障,降低成本,为制造打开新大门。

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